Lee, J. W., Wang, H., Jang, K., Lichtle, N., Hayat, A., Bunting, M., Alanqary, A., Barbour, W., Fu, Z., Gong, X., Gunter, G., Hornstein, S., Kreidieh, A. R., Nice, M. T. W., Richardson, W. A., Shah, A.,
Vinitsky, E., Wu, F., Xiang, S. & Almatrudi, S.
& 44 others,
Althukair, F., Bhadani, R., Carpio, J., Chekroun, R., Cheng, E., Chiri, M. T., Chou, F. C., Delorenzo, R., Gibson, M., Gloudemans, D., Gollakota, A., Ji, J., Keimer, A., Khoudari, N., Mahmood, M., Mahmood, M., Matin, H. N. Z., Mcquade, S., Ramadan, R., Urieli, D., Wang, X., Wang, Y., Xu, R., Yao, M., You, Y., Zachar, G., Zhao, Y., Ameli, M., Baig, M. N., Bhaskaran, S., Butts, K., Gowda, M., Janssen, C., Lee, J., Pedersen, L., Wagner, R., Zhang, Z., Zhou, C., Work, D. B., Seibold, B., Sprinkle, J., Piccoli, B., Monache, M. L. D. & Bayen, A. M.,
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In: IEEE Control Systems. 45,
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p. 28-60 33 p.Research output: Contribution to journal › Article › peer-review