Charged particle multiplicities at BRAHMS

S. J. Sanders, I. G. Bearden, D. Beavis, C. Besliu, Y. Blyakhman, J. Brzychczyk, B. Budick, H. Bøggild, C. Chasman, C. H. Christensen, P. Christiansen, J. Cibor, R. Debbe, J. J. Gaardhøje, K. Grotowski, K. Hagel, O. Hansen, A. Holm, A. K. Holme, H. ItoE. Jakobsen, A. Jipa, J. I. Jørdre, F. Jundt, C. E. Jørgensen, T. Keutgen, E. J. Kim, T. Kozik, T. M. Larsen, J. H. Lee, Y. K. Lee, G. Løvhøiden, Z. Majka, A. Makeev, B. McBreen, M. Murray, J. Natowitz, B. S. Nielsen, K. Olchanski, J. Olness, D. Ouerdane, R. Płaneta, F. Rami, D. Röhrich, B. H. Samset, S. J. Sanders, R. A. Sheetz, Z. Sosin, P. Staszel, T. F. Thorsteinsen, T. S. Tveter, F. Videbæk, R. Wada, A. Wieloch, I. S. Zgura

    Research output: Contribution to journalConference articlepeer-review

    Fingerprint

    Dive into the research topics of 'Charged particle multiplicities at BRAHMS'. Together they form a unique fingerprint.

    Keyphrases

    Physics

    Engineering