Sistema de control de calidad de microestructuras mediante el análisis de imágenes utilizando computación de alto rendimiento y paralelización.

Rafael Maria Gutierrez; Cesar Rodriguez

Sistema de control de calidad de microestructuras mediante el análisis de imágenes utilizando computación de alto rendimiento y paralelización.

Translated title of the contribution: Microstructure quality control system through image analysis using high performance computing and parallelization

Rafael Maria Gutierrez (Inventor), Cesar Rodriguez (Inventor)

Physics

Research output: Patent

Translated title of the contribution	Microstructure quality control system through image analysis using high performance computing and parallelization
Original language	Spanish
Patent number	NC2017/0007309
State	Published - Jan 31 2018

Cite this

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title = "Sistema de control de calidad de microestructuras mediante el an{\'a}lisis de im{\'a}genes utilizando computaci{\'o}n de alto rendimiento y paralelizaci{\'o}n.",

author = "Gutierrez, {Rafael Maria} and Cesar Rodriguez",

year = "2018",

month = jan,

day = "31",

language = "Spanish",

type = "Patent",

note = "NC2017/0007309",

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